Skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) i prenosna elektronska mikroskopija (TEM) su standardne tehnike snimanja za analizu poluprovodničkih uređaja i predstavljaju ključni alat u vašem postupku za kontrolu kvaliteta, analizu kvara ili za istraživanje i razvoj.
Obe ove tehnike se mogu primeniti na poprečne preseke u cilju istraživanja vertikalne strukture uređaja. Poprečni preseci se mogu vršiti na različite načine. Koristeći fokusirani jonski snop (FIB), često u kombinaciji sa SEM u jednom uređaju, je postala najčešća pripremna tehnika.
SEM i TEM poprečni presek je specijalizovana usluga SGS-a. Naši stručnjaci rade sa opremom visokog učinka da obezbede slike do najmanjih detalja kada vam je potrebna slika više rezolucije od one koju može da obezbedi optički mikroskop.
Poprečne preseke SEM i TEM koristimo u mnoge analitičke svrhe, uključujući:
- Analizu fizičkog kvara
- Građevinsku analizu
- Obrnuti inženjering
Kontaktirajte SGS da saznate više o tome kako SEM i TEM poprečno presecanje može da obezbedi ključni alat za kontrolu kvaliteta vaših proizvoda.
Jurija Gagarina 7b,
, 11070,
Beograd, Srbija